Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии


PDF просмотр
НазваниеИсследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии
страница1/7
ПЬЯНКОВ ЕВГЕНИЙ СЕРГЕЕВИЧ
Дата конвертации12.08.2012
Размер98,13 Kb.
ТипАвтореферат
СпециальностьД.5 С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке МИЭТ
Год2010
На соискание ученой степениКандидат технических наук

Описание:

Чтобы увидеть текст работы нажмите на ссылку "Предварительный просмотр"
Предварительный просмотр
PDF просмотр

Похожие:

Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии iconИсследование процесса изготовления кантилевера с улучшенными характеристиками для сканирующей зондовой микроскопии
Специальность 05. 27. 06 Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов
Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии iconИсследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии
Защита состоится декабря 2007 г в 1430 часов на заседании
Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии iconРазработка метрологического обеспечения измерений геометрических и механических величин методами полуконтактной сканирующей зондовой микроскопии и наноиндентирования
«Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов» (фгу тиснум) и Федеральном государственном
Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии iconРазработка и исследование методов и средств измерений линейных размеров и твердости с применением полУконтактной Сканирующей Зондовой Микроскопии и наноиндентирования
Работа выполнена в Федеральном государственном учреждении «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов» (фгу...
Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии iconМатематические модели и алгоритмы функционирования систем распознавания в сканирующей зондовой микроскопии
Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики технический универси­
Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии iconФормирование микро- и нанодоменных структур в сегнетоэлектрических материалах методами сканирующей зондовой микроскопии
Фгаоу впо «Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина», Екатеринбург
Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии iconРазработка и исследование технологии формирования наноструктур на основе нитридов элементов III группы
Миэт” в научно-образовательном центре «Зондовой микроскопии и нанотехнологий»
Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии iconЭкспериментальное исследование бесконтактного формирования поверхностных наноструктур методом сканирующей туннельной микроскопии
Специальность 05. 27. 06 Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники
Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии iconРазработка алгоритмического и программного обеспечения для автоматизации проектирования топологии прецизионных элементов аналоговых интегральных схем

Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии iconИсследование и разработка методов увеличения производительности интегральных схем многоядерных микропроцессоров на основе повышения эффективности коммутационной логики
Соискатель Ф. М. Путря
Разместите кнопку на своём сайте:
поделись


База данных защищена авторским правом ©dis.podelise.ru 2012
обратиться к администрации
АвтоРефераты
Главная страница