Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов


PDF просмотр
НазваниеСканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов
страница1/19
ГРИШИН Максим Вячеславович
Дата конвертации20.09.2012
Размер240,65 Kb.
ТипАвтореферат
СпециальностьХимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний вещества
Год2010
На соискание ученой степениДоктор физико-математических наук

Похожие:

Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов iconСканирующая зондовая микроскопия твердотельных наноструктур
Бурное развитие методов сзм, таких, как сканирующая туннельная микроскопия (стм), атомно-силовая микроскопия (асм), магнитно-силовая...
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов iconСканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия наноструктур на поверхности монокристалла меди
Институте общей физики им. А. М. Прохорова ран официальные оппоненты: доктор физико-математических наук, профессор
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов iconТуннельная микроскопия/спектроскопия гетерогенных электродных и электроосажденных материалов Cпециальность
Московского государственного университета имени М. В. Ломоносова доктор химических наук, профессор
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов iconЗафар сканирующая зондовая микроскопия поверхности графита и углеродосодержащих покрытий
Научный доктор физико-математических наук
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов iconСканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости и магнитных наноструктур
Рр методами, и их адекватной интерпретации. Часть диссертационной работы
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов iconТуннельная спектроскопия двумерной электронной системы приповерхностного дельта-легированного слоя в GaAs

Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов iconСканирующая силовая микроскопия полимерных структур на подложке
Н. С. Ениколопова ран защита состоится 16 сентября 2009 г в часов на заседании Диссер
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов iconСканирующая ближнепольная и двухфотонная микроскопия нано- и биообъектов
Химической Физики им. Н. С. Семёнова Научные руководители: доктор физико-математических наук
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов iconСовмещенная атомно-силовая и сканирующая резистивная микроскопия полимерных и неорганических материалов
Защита состоится «25» апреля 2007 г в 16 часов на заседании диссертационного
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов iconМежслоевая туннельная спектроскопия квазиодномерных проводников с волной зарядовой плотности
Защита состоится «20» июня 2008 г в 12-00 на заседании диссертационного
Разместите кнопку на своём сайте:
поделись


База данных защищена авторским правом ©dis.podelise.ru 2012
обратиться к администрации
АвтоРефераты
Главная страница