Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов


Скачать 240,65 Kb.
PDF просмотр
НазваниеСканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия нанооксидов металлов
страница1/19
ГРИШИН Максим Вячеславович
Дата конвертации20.09.2012
Размер240,65 Kb.
ТипАвтореферат
СпециальностьХимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний вещества
Год2010
На соискание ученой степениДоктор физико-математических наук
  1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   19
На правах рукописи 
 
 
 
 
 
 
 
 
ГРИШИН Максим Вячеславович 
 
 
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия 
нанооксидов металлов 
 
01.04.17 – Химическая физика, горение и взрыв, 
физика экстремальных состояний вещества 
 
 
АВТОРЕФЕРАТ 
диссертации на соискание ученой степени 
доктора физико-математических наук 
 
 
 
 
 
 
 
 
Москва - 2010  

Работа  выполнена  в  Учреждении  Российской  академии  наук  Институте 
химической физики им.Н.Н.Семенова РАН 
 
Официальные оппоненты
Доктор  физико-матеметических  наук,  Рябенко  Александр  Георгиевич,  ИПХФ 
РАН 
 
Доктор  физико-матеметических  наук,  Клочихин  Владимир  Леонидович, 
ИБРАЭ РАН 
 
Доктор  физико-матеметических  наук,  профессор  Трахтенберг  Леонид 
Израилевич, ИХФ РАН 
 
Ведущая организация: Химический факультет МГУ им.М.В.Ломоносова 
 
 
Защита  состоится  ___________  в  _____часов    на  заседании  диссертационного 
совета  Д  002.012.02  в  Учреждении  Российской  академии  наук  Институте 
химической  физики  им.  Н.Н.  Семенова  РАН  по  адресу  Москва,  ул.Косыгина, 
д.4, 1-ый корпус в Актовом. 
 
С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке ИХФ РАН 
 
 
Автореферат разослан 
 
 
Ученый секретарь  
Диссертационного совета 
 
 
 
 
 
 
Голубков  М.Г. 
к.ф.-м.н.

Общая характеристика работы 
 
Актуальность темы. Сфера применения оксидов почти безгранична. Они 
используются  в  катализе  (Al2O3,  TiO2,  ТhO2),  для  фотоэлектролиза  воды  (TiO2, 
MoO  и  MoO/TiO2),  как  ядерное  топливо  (U2O3),  в  микроэлектронике  как 
полупроводники  и  изоляторы  (CuO,  Al2O3),  как  оптические  элементы  (WOX). 
Физические  и  химические  свойства  оксидов  определяются  их  пространственной 
структурой  и  значительно  изменяются  при  переходе  от  одного  типа 
кристаллической  решетки  к  другому.  Совершенные  оксиды  являются 
изоляторами или полупроводниками. Структурные дефекты значительно меняют 
их  физико-химические  свойства,  внося  дискретные  электронные  уровни  в 
запрещенную  зону.    На  локальные  свойства  оксидов  оказывают  значительное 
влияние  и  адсорбированные  на  их  поверхности  частицы,  что  необходимо 
учитывать при изучении каталитических процессов. 
Как правило, реальные оксиды, представляющие наибольший интерес для 
практического  применения,  несовершенны,  т.е.  представляют  собой  набор 
кристаллов, 
имеющих 
различные 
типы 
кристаллической 
решетки 
и 
многочисленные  дефекты  в  них.  Используемые  для  их  изучения  методы  – 
ультрафиолетовая,  инфракрасная,  Оже-  и  другие  варианты  спектроскопии, 
рентгено-структурный анализ, электронная микроскопия тестируют достаточно 
большие  участки,  захватывая  различные  типы  кристаллических  решеток. 
Вследствие  этого,  полученные  данные  оказываются  усредненными  по  всему 
набору  решеток  оксида.  В  результате  во  многих  случаях  затрудняется 
интерпретация  полученных  экспериментальных  результатов.  Особенно  трудно 
установить  свойства  наноструктур,  которые  во  многом  определяются 
строением  и  составом  их  поверхностей.  Например,  практически  невозможно 
получить  информацию  о  роли  дефектов  в  элементарных  актах  химических 
реакций,  в  том  числе  каталитических,  скоростей  их  протекания,  о  стойкости  к 
пробою  изоляторов 
в  топологических  элементах  электронных  схем, 
характерный  размер  которых  в  настоящее  время  составляет  десятки 
нанометров. Таким образом, ясно, что необходимы новые методы исследования 
 

  1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   19

Разместите кнопку на своём сайте:
поделись


База данных защищена авторским правом ©dis.podelise.ru 2012
обратиться к администрации
АвтоРефераты
Главная страница